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PRODUCT CLASSIFICATION產品中心/ products
 


產品型號:NY-201
更新時間:2025-08-2619孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
產品簡介
19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm,20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。

19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
產品簡介
19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm,20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
產品簡介
19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm,20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
產品簡介
19孔圓盤低對比度細節(jié)檢測模體 NY-201
1.用于CR和DR成像系統(tǒng)低對比度細節(jié)分辨力檢測。
2.直徑100mm,20mm厚;鋁板上均布19個1cm孔徑圓孔。
        
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